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          JANDEL探頭(tou)KLA CDE ResMap介紹(shao)詳情(qing)
          瀏覽次數(shu):1297發(fa)布(bu)日(ri)期(qi):2023-01-18

          Jandel成(cheng)立於(yu) 1967 年(nian),為自動(dong)化工具制(zhi)造探(tan)頭(tou)探針(zhen),還為(wei)半導體(ti)行業(ye)以及大學(xue)、實(shi)驗室(shi)工(gong)作(zuo)和研(yan)究應(ying)用制(zhi)造簡單的(de)臺式(shi)電阻率(lv)測(ce)量設(she)備(bei)。起(qi)初生產(chan)產品是(shi)電解(jie)濕(shi)度計(ji)電池,采用螺旋切(qie)割(ge)石(shi)英成(cheng)型(xing)器(qi)雙線(xian)纏繞,直(zhi)徑(jing)為 0.05 毫(hao)米的(de)鉑絲(si),至(zhi)今(jin)仍在(zai)生產(chan)和銷售(shou)相同的(de)產品。多(duo)年(nian)來,通(tong)過不斷(duan)地發(fa)展創(chuang)新,提(ti)高產(chan)品質(zhi)量及(ji)性能(neng),積(ji)累了(le)豐(feng)富的(de)設計(ji)開發(fa)經驗,可(ke)以為客(ke)戶提(ti)供滿(man)意(yi)的(de)產品及(ji)服務。


          主(zhu)要(yao)產品:

          探(tan)頭(tou)、探針(zhen)、手動探(tan)針(zhen)臺、電阻率(lv)測(ce)量設(she)備(bei)、電解(jie)濕(shi)度計(ji)電池


          主(zhu)要(yao)型(xing)號:

          KLA、CDE ResMap、AIT、Napson、Veeco、Alessi

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          KLA帶(dai)有 6 路(lu)連接(jie)器(qi)探頭(tou)與CDE工具制(zhi)造的(de)探頭(tou)非常(chang)相似(si),但(dan)探頭(tou)頭(tou)不可(ke)互換(huan),因此(ci)應格(ge)外小(xiao)心,尤(you)其是(shi)當兩(liang)個(ge)系(xi)統都(dou)在(zai)現場使(shi)用時(shi)。CDE兼容(rong)探(tan)頭(tou)具有特(te)的(de)黑色(se)物鏡(jing)轉(zhuan)換(huan)器(qi)。所有(you) Jandel 探(tan)頭(tou)都具有高水(shui)平的(de)機械(xie)精度。通(tong)過視(shi)頻檢(jian)測(ce)系(xi)統和光(guang)學(xue)幹(gan)涉(she)儀驗證(zheng)半(ban)徑(jing)、間距(ju)和平(ping)面(mian)度的(de)規格(ge)。負載(zai)由電子(zi)測力計(ji)驗證(zheng)。

          性能(neng)特點(dian)

          • 高性能(neng)

          技術(shu)參(can)數

          • 探(tan)頭(tou)間距(ju):0.500mm,0.635mm,1.00mm,1.016mm,1.27mm,1.591mm(針至(zhi)針(zhen)頭(tou))

          • 公差(cha):+/- 10微(wei)米

          • 布(bu)置:線(xian)性或方陣列

          • 針頭(tou):碳化鎢直徑(jing)為0.4mm(直(zhi)徑(jing)為0.3mm的(de)距離間距(ju))

          • 針(zhen)頭(tou)選項:50%osmium合(he)金提(ti)示(shi)可(ke)用

          • 半徑(jing):12.5、25、40、100、150、200、300、500微(wei)米

          • 縮(suo)放(fang)到(dao)墊(dian)子(zi):0.5毫(hao)米

          • 平面(mian)性:+/- 0.025mm或更好(hao)

          • 負(fu)載(zai):固定在(zai)10克(ke)和250克(ke)之(zhi)間(jian)

          • 電氣泄(xie)漏(lou):500伏特(te)的(de)針之(zhi)間(jian)的(de)1013歐姆電阻



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