美國(guo)麥(mai)奇(qi)克(ke)有限公(gong)司（Microtrac Inc.）是(shi)世(shi)界(jie)上(shang)好(hao)的激(ji)光(guang)應用技(ji)術(shu)研究和制造(zao)廠商(shang)，其先進的激(ji)光(guang)粒度分析(xi)儀已廣泛應用(yong)於水泥，磨(mo)料(liao)，冶(ye)金(jin)，制(zhi)藥，石油(you)，石化(hua)，陶(tao)瓷等領(ling)域(yu)，並(bing)成為(wei)眾(zhong)多(duo)行(xing)業(ye)的質量檢測(ce)和控制的分析(xi)儀器。Microtrac Inc.公(gong)司非(fei)常註重(zhong)技(ji)術(shu)創(chuang)新(xin)，近(jin)半(ban)個世紀以(yi)來(lai)，壹(yi)直(zhi)領(ling)頭(tou)著(zhe)激(ji)光(guang)粒度分析(xi)的前沿技(ji)術(shu)，可(ke)靠(kao)的(de)產(chan)品和強大(da)的應用支(zhi)持(chi)及(ji)完善(shan)的售後(hou)服(fu)務(wu)，使得(de)其不(bu)斷(duan)超越自我，推(tui)陳出(chu)新(xin)。麥(mai)奇(qi)克(ke)Microtrac以(yi)其在(zai)激(ji)光(guang)衍射/散射技(ji)術(shu)和顆(ke)粒表征方面的(de)獨到(dao)見(jian)解，經(jing)過多(duo)年(nian)的市場(chang)調研和潛心研究，開發出新(xin)壹代Zetatrac微(wei)電(dian)場(chang)分析(xi)技(ji)術(shu)，融(rong)納米顆(ke)粒粒度分布(bu)與Zeta電(dian)位測(ce)量於壹(yi)體(ti)，無需(xu)傳統的比色(se)皿，壹(yi)次(ci)進樣(yang)即(ji)可(ke)得(de)到(dao)準確的(de)粒度分布(bu)和Zeta電(dian)位分析(xi)數據(ju)。與傳統的Zeta電(dian)位分析(xi)技(ji)術(shu)相(xiang)比(bi)，Zetatrac采(cai)用先進的“Y”型光(guang)纖探針光(guang)路設(she)計(ji)，配(pei)置(zhi)膜電(dian)極(ji)產(chan)生(sheng)微(wei)電(dian)場(chang)，操(cao)作簡(jian)單，測(ce)量迅(xun)速(su)，無(wu)需(xu)準確定位由於電(dian)泳(yong)和電(dian)滲(滲)等效(xiao)應(ying)導(dao)致(zhi)的靜(jing)止(zhi)層(ceng)，無需(xu)外(wai)加大(da)功(gong)率(lv)電(dian)場(chang)，無需(xu)更換(huan)分別(bie)用於測(ce)量粒度和Zeta電(dian)位的樣品池，消除由於空間位阻(zu)（不同(tong)光(guang)學元器件(jian)間的傳輸損失，比色皿器壁(bi)的(de)折射和汙染(ran)，比(bi)色(se)皿位置的差(cha)異(yi)，分散介質的影(ying)響，顆(ke)粒間多(duo)重(zhong)散射等）帶來(lai)的(de)光(guang)學信號(hao)的損失，結(jie)果準確可(ke)靠(kao)，重現(xian)性好(hao)。
主(zhu)要(yao)產(chan)品：
激(ji)光(guang)粒度分析(xi)儀、電(dian)位分析(xi)儀、噴(pen)霧粒度分析(xi)儀、動(dong)態顆(ke)粒圖(tu)像分析(xi)儀
主(zhu)要(yao)型號：
S3500、BELSORP MAX X、BELSORP MAX G、BELSORP MINI X、BELSORP MR 1、BELPREP VAC、BELCAT II、BELMASS II、BELPYCNO L、BELSOR HP、BELPORE系(xi)列、CAMSIZER 3D、CAMSIZER X2、CAMSIZAR XL、SYNC、AEROTRAC II、NANOTRAC FLEX、STABINO ZETA
Microtrac S3500是(shi)業(ye)界選(xuan)擇的(de)激(ji)光(guang)衍射（LD）分析(xi)儀，非(fei)常適(shi)合(he)各種顆(ke)粒表征任務(wu)。這是壹個使(shi)用三(san)個準確放(fang)置(zhi)的紅色(se)激(ji)光(guang)二極(ji)管來(lai)準確表征顆(ke)粒的粒度分析(xi)儀。
獲(huo)得(de)的(de)三(san)激(ji)光(guang)系統利(li)用(yong)經(jing)驗證的球(qiu)形(xing)顆(ke)粒Mie補(bu)償理論和非(fei)球(qiu)形(xing)顆(ke)粒Modified Mie計(ji)算(suan)的(de)專(zhuan)有原理，為(wei)各種應(ying)用(yong)提供準確、可(ke)靠(kao)和可重復的(de)顆(ke)粒尺寸(cun)分析(xi)。S3500可測(ce)量0.02至2800µm的(de)顆(ke)粒尺寸(cun)。
三(san)激(ji)光(guang)，紅光(guang)，多(duo)檢測(ce)器，多(duo)角度的(de)光(guang)學系統
利用三(san)重補(bu)償算法(fa)及(ji)改(gai)良三(san)重計(ji)算(suan)非(fei)球(qiu)形(xing)顆(ke)粒
0.02至2800微(wei)米的測(ce)量能(neng)力(li)
固定探(tan)測(ce)器和激(ji)光(guang)器
封(feng)閉(bi)光(guang)路確保(bao)光(guang)學部件(jian)保(bao)護(hu)，很少或(huo)沒(mei)有操(cao)作員(yuan)幹(gan)預(yu)
利用(yong)三(san)個紅(hong)色激(ji)光(guang)，提高了測(ce)量的範圍，讓您可(ke)以(yi)靈活地進(jin)行(xing)分析(xi)，廣泛(fan)的樣本
專(zhuan)有修改(gai)三(san)重計(ji)算(suan)允(yun)許(xu)用戶準確地測(ce)量復雜(za)的(de)顆(ke)粒等，準確地表征
從濕到(dao)幹(gan)的(de)測(ce)量無縫(feng)過渡(du)，減少停(ting)機(ji)時間
固定檢測(ce)器提(ti)供(gong)堅固耐用，確保(bao)正(zheng)確的定位
小型平臺(tai)占(zhan)位面積小(xiao)，減少了(le)寶(bao)貴的實(shi)驗室(shi)空間
測(ce)量範圍：0.02µm-2.8 mm
基(ji)本範圍：濕：0.7至1000微(wei)米；幹(gan)：0.7至(zhi)1000微(wei)米
高範圍：濕：2.75至2800微(wei)米；幹(gan)：2.75至(zhi)2800微(wei)米
標準範圍：濕：0.24至1400微(wei)米；幹(gan)：0.24至(zhi)1400微(wei)米
特(te)殊範圍：濕：0.086至1400微(wei)米；幹(gan)：0.24至(zhi)1400微(wei)米
擴展(zhan)範圍：濕：0.021至2000微(wei)米；幹(gan)：0.24至(zhi)2000微(wei)米
增強(qiang)範圍：濕：0.021至2800微(wei)米；幹(gan)：0.24至(zhi)2800微(wei)米
測(ce)量原理：激(ji)光(guang)衍射
激(ji)光(guang)：波長780nm
功(gong)率(lv)：標(biao)稱3mW
測(ce)量時間：約10至(zhi)30秒(miao)
尺(chi)寸(cun)（寬x高x深）：約560 x 360 x 460毫(hao)米（22 x 14 x 18英寸(cun)）
重量：~27公(gong)斤（60磅(bang)）
真空度(du)：須(xu)超過50 CFM
產(chan)地：美國(guo)
-精度：
球(qiu)形(xing)玻璃(li)珠D50=642微(wei)米，精度為(wei)CV=0.7％
球(qiu)形(xing)玻璃(li)珠D50=56微(wei)米，精度為(wei)CV=1.0％
球(qiu)形(xing)乳膠珠D50=0.4微(wei)米，精度為(wei)CV=0.6％
-環(huan)境：
溫度：10至35攝氏度(du)（50至(zhi)95華(hua)氏度(du)）
濕度：90%RH，max無(wu)冷(leng)凝(ning)
儲(chu)存(cun)溫度：-10至50攝氏度(du)（14至(zhi)122華(hua)氏度(du)）（僅幹(gan)燥(zao)）
汙染(ran)：2級(ji)
生(sheng)物(wu)技(ji)術(shu)/制(zhi)藥(yao)
金(jin)屬/金(jin)屬粉(fen)末(mo)
化(hua)學制品
顏(yan)料(liao)
食(shi)品/飲(yin)料(liao)
水(shui)泥制(zhi)造(zao)
地質研究
塗(tu)料(liao)
聚(ju)合(he)物
學術研究
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