德(de)國DIATEST公司於1948年由Hermann Költgen先生創辦，總部坐落(luo)在(zai)達姆(mu)施塔特(te)，DIATEST用戶(hu)更是(shi)遍(bian)布(bu)世(shi)界(jie)各地。DIATEST專業生產高(gao)精度孔(kong)徑(jing)量儀(yi)，其精度可達0.001mm。DIATEST的(de)產(chan)品包括(kuo)：測(ce)量儀(yi)、檢具、百分(fen)表(biao)、千分(fen)表(biao)等(deng)，產(chan)品廣泛應用於航天航空、汽車(che)、液壓(ya)以(yi)及(ji)機(ji)械(xie)制(zhi)造(zao)等(deng)行(xing)業。

DIATEST塞規(gui)式(shi)孔徑(jing)測(ce)量(liang)儀（BMD）
塞規(gui)式(shi)孔徑(jing)測(ce)量(liang)儀（BMD）是(shi)可以自(zi)動定中心(xin)的(de)高(gao)精度的(de)孔(kong)徑內徑(jing)測(ce)量儀器(qi)。具有(you)高精(jing)密(mi)靜(jing)態(tai)孔徑測量和動態(tai)孔徑測量功(gong)能。既(ji)可用於手動檢測尺(chi)寸偏(pian)差(cha)和(he)形(xing)狀(zhuang)缺陷(xian)錯誤(wu)的(de)孔(kong)徑檢測儀(yi)器(qi)，也(ye)可以安裝在測量(liang)設備(bei)和自動化系統上。測量範圍(wei)從Ø 2.98到270mm。

DIATEST標準塞規(gui)式(shi)側頭形(xing)式(shi)
BMD-S4-CR-7.04、BMD-S6-CR-10.0、BMD-S10-CR-39.993、BMD-S10-CR-124.96

DIATEST通孔(kong)塞(sai)規(gui)式(shi)測頭形(xing)式(shi)
BMD-D4-CR-4.98、BMD-D6-CR-10.0、BMD-D10-CR-41.97
BMD-D10-CR-59.977、BMD-D10-CR-100.00

DIATEST盲孔(kong)塞(sai)規(gui)式(shi)測頭形(xing)式(shi)
BMD-FB6-CR-8.984
BMD-FB10-CR-41.973
BMD-FB10-CR-59.977
BMD-FB10-CR-100.00

DIATEST自動測量用塞(sai)規(gui)式(shi)測頭
BMD-D10-CR-30.0-RK
BMD-D10-CR-30.0-PK-2Z-Φ2Z=30-0.4mmm
BMD-D10-OCR-30.0-RK-ZHML

DIATEST特(te)殊形(xing)式(shi)BMD塞規(gui)式(shi)測頭
BMD-S10-CR-28.0-S-FB-L1=3.0
BMD-S10-CR-30.0-OR-FASE0.5x45°
BMD-S10-CR-30.0-UM
BMD-S10-CR-10.0-2R
BMD-S10-CR-35.0-3P
BMD-D10-CR-28.0-SO-TA-L3=11

DIATEST測(ce)量平行(xing)槽(cao)用PA測(ce)頭
BND-PA-4-S-MCR-4.35、BND-PA-4-S-MCR-6.3

DIATEST多(duo)截面(mian)測(ce)頭
BMD-1ME、BMD-2ME-13-10、BMD-2ME-13-12、BMD-2ME-15-9、BMD-2ME-15-18
BMD-2ME-20-1、BMD-2ME-20-2、BMD-3ME-13、BMD-3ME-20、BMD-3ME-0-24-1
BMD-4ME-20-1、BMD-4ME-24-26-2、BMD-4ME-24-26-3、BMD-4ME-24-26-4
BMD-4ME-24-26-5、BMD-4ME-24-26-6、BMD-8ME-20-38

DIATEST兩(liang)瓣(ban)式(shi)小孔(kong)徑(jing)測(ce)量儀
多功(gong)能孔(kong)徑測量(liang)儀(yi)，可以測(ce)量孔徑(jing)範圍(wei)從Ø 0.47到41.3mm，測(ce)量孔徑的(de)同(tong)時(shi)可檢測(ce)孔的(de)圓(yuan)度和(he)橢圓(yuan)度，尤(you)其(qi)適用於小孔徑的(de)測(ce)量，以及(ji)實驗(yan)室(shi)中高精(jing)度要求的(de)孔(kong)徑測量，即(ji)可用於孔徑手動測量又可用於孔徑自動測量

DIATEST標準測頭陶(tao)瓷測點(dian)
T-HM-011、T-HM-022、T-HM-028、T-HM-036

DIATEST盲孔(kong)測(ce)頭普(pu)通碳(tan)鋼鍍硬(ying)洛
T-FB-011、T-FB-015、T-FB-026、T-FB-035

DIATEST標準T系列測頭硬(ying)質(zhi)合金測點(dian)
T-T-HM-2.75、T-T-HM-4.00、T-T-HM-6.0、T-T-HM-9.5

DIATEST標準T系列測頭普(pu)通碳(tan)鋼鍍硬(ying)洛
T-T-2.25、T-T-3.25、T-T-9.0、T-T-5.5

DIATEST 3點(dian)式(shi)測頭
T-3P-5.0、T-3P-7.0、T-3P-10.0、T-3P-12.5、T-3P-21.5

DIATEST 標準形(xing)式(shi)測頭
T-PA-5.0、T-PA-8.0、T-PA-21、T-PA-25

DIATEST內徑(jing)表(biao)式(shi)測量(liang)儀(yi)
操(cao)作簡單(dan)，適(shi)用於大部分(fen)孔(kong)徑測量及(ji)大尺(chi)寸測(ce)量，校準簡單(dan)，可用千(qian)分(fen)尺(chi)或(huo)環(huan)規(gui)校準，通過(guo)中間(jian)橋自(zi)動定中心(xin)，除(chu)了(le)測量孔(kong)徑(jing)外(wai)，還可檢測(ce)圓(yuan)度、圓(yuan)柱(zhu)度等(deng)形(xing)狀(zhuang)誤(wu)差(cha)，也(ye)可用於測量平行(xing)距(ju)離(li)內徑(jing)測(ce)量。
MK5、MK6、MK7、MK6FB、MK8FB、MK8

DIATEST錐(zhui)孔(kong)及(ji)倒角(jiao)測量儀
內部錐(zhui)形(xing)量規(gui)測量(liang)壹(yi)個圓(yuan)錐(zhui)形(xing)孔的(de)大直徑(jing)或(huo)錐(zhui)形(xing)鍵槽(cao)。壹(yi)個IKT即(ji)可取(qu)代以(yi)前更慢和更昂(ang)貴的(de)測(ce)量手段。
DIATEST IKT內錐(zhui)孔(kong)端面直(zhi)徑(jing)測量(liang)系統
IKT-90-1、IKT-90-5、IKT-90-7、IKT-127-2、IKT-127-6、IKT-60-4
IKT-60-11、IKT-60-12、IKT-90-Z-3、IKT-90-Z-1

DIATEST AKT外(wai)錐(zhui)面(mian)端面直(zhi)徑(jing)測量(liang)系統
AKT-90-1、AKT-90-3、AKT-127-4、AKT-127-6、AKT-60-1
AKT-60-8、AKT-60-12、AKT-90-Z-1、AKT-90-Z-4

DIATEST螺紋(wen)深度測(ce)量(liang)規(gui)
DIATEST TD-量規(gui)可以測(ce)量螺紋(wen)的(de)深度和(he)通止(zhi)。
系列2：M=3.5-6mm
系列3：M=7-10mm
系列4：M=11-14mm
系列5：M=16-18mm

DIATEST內外(wai)齒(chi)輪測(ce)量(liang)儀(yi)
我司(si)生產的(de)內齒(chi)輪測(ce)量(liang)儀(yi)采用了(le)球形(xing)測頭，替(ti)代了(le)傳統的(de)量(liang)棒(bang)測量(liang)方(fang)式(shi)，從而(er)提高(gao)了(le)測量的(de)精(jing)度，便(bian)捷(jie)性和(he)穩(wen)定性，同(tong)時(shi)還能測(ce)出(chu)內孔(kong)的(de)形(xing)狀(zhuang)誤(wu)差(cha)，如(ru)錐(zhui)度，橢圓(yuan)度等(deng)，為(wei)了(le)滿足(zu)齒(chi)輪不(bu)同(tong)模(mo)數的(de)變(bian)化(hua)，該齒(chi)輪測(ce)量(liang)儀(yi)的(de)測(ce)球也(ye)是(shi)可以方(fang)便(bian)更換，從而(er)大大的(de)提(ti)高了(le)測量儀(yi)的(de)適(shi)用性，該測(ce)量(liang)儀適(shi)用於測量奇(qi)數齒(chi)輪和(he)測(ce)量(liang)偶數齒(chi)輪。
ZM-2、ZM-3、ZM-6、ZM-7
T-ZM-2、T-ZM-2-4.0、T-ZM-2-5.5、T-ZM-2-6.5、T-ZM-2-9.0、T-ZM-2-9.5
T-ZM-3-10-(K)、T-ZM-3-12-(K)、T-ZM-3-14-(K)、T-ZM-3-11、T-ZM-3-16、T-ZM-3-19

DIATEST內外(wai)徑(jing)測量系統
內外(wai)徑(jing)測量系統,內外(wai)齒(chi)測量(liang)系(xi)統-DIA-COME
DIA-COME C2、DIA-COME C2 AL、DIA-COME C2 JS

DIATEST超(chao)高(gao)精度電(dian)子(zi)塞(sai)規(gui)
Diatron 1000電子(zi)塞(sai)規(gui)是(shi)新(xin)壹(yi)代的(de)超(chao)高(gao)精度DIATEST測(ce)量(liang)儀器(qi)，集(ji)成(cheng)內徑(jing)/孔(kong)徑測量(liang)和外(wai)徑(jing)測量，是(shi)壹(yi)款靈(ling)活(huo)、安全數據(ju)傳(chuan)輸的(de)旗(qi)艦(jian)產品。高精(jing)度顯(xian)示（7位(wei)）
Diatron 1000

DIATEST外(wai)徑(jing)測量比較(jiao)儀(yi)
DIATEST外(wai)徑(jing)測量儀（AMG外(wai)徑(jing)卡規(gui)）是(shi)壹(yi)種通用的(de)高(gao)精度測(ce)量(liang)裝置(zhi)，適用於生產和(he)檢測(ce)領域，通過(guo)使用導(dao)向柱(zhu)工件可以自(zi)動找正，測(ce)頭將(jiang)行程直接(jie)傳遞(di)到(dao)指(zhi)示表上，這就保(bao)證了(le)外(wai)徑(jing)的(de)精(jing)密(mi)測(ce)量。
AMG外(wai)徑(jing)卡規(gui)

DIATRON數據(ju)傳(chuan)輸單(dan)元(yuan)
DIATRON-系列(電箱(xiang)、電(dian)子(zi)柱(zhu)、電(dian)子(zi)塞(sai)規(gui))包括(kuo)能夠(gou)測量(liang)數字(zi)化測(ce)量儀(yi)器(qi)，傳輸，顯(xian)示和存儲數據(ju)。根(gen)據(ju)不(bu)同(tong)的(de)應用，並(bing)在(zai)測量作業的(de)DIATRON被單(dan)獨(du)使用或(huo)組合使用。該儀(yi)器(qi)是(shi)非常(chang)堅固，並(bing)提(ti)供靈(ling)活(huo)的(de)操(cao)作能力(li)。

尤其(qi)是(shi)DIATRON1000 - 高精(jing)度和(he)數據(ju)傳(chuan)輸的(de)儀(yi)器(qi)。
DIATRON1000超(chao)高(gao)精度電(dian)子(zi)塞(sai)規(gui)
DIATRON2200系列電子(zi)柱(zhu)
DIATRON6000電(dian)箱是(shi)帶模擬(ni)和(he)數字(zi)顯示的(de)SPC功(gong)能的(de)顯(xian)示單(dan)元(yuan)。

DIAWIRELESS無線(xian)傳輸
測(ce)量(liang)數據(ju)無(wu)線(xian)傳輸-DIAWIRELESS
DIAWIRELESS - 通過(guo)無線(xian)或(huo)藍(lan)牙(ya)Bluetooth® 將(jiang)測量(liang)數據(ju)實(shi)時(shi)傳輸到(dao)PC。

DIATRON校中心(xin)檢(jian)具
特(te)別(bie)適(shi)用於銑床(chuang)、磨床、和(he)鉆(zuan)床等(deng)機(ji)床(chuang)上。

DIATRON曲軸測量(liang)儀(yi)
該檢(jian)測(ce)儀用於檢測曲軸(zhou)及(ji)其位(wei)置(zhi)度誤(wu)差(cha)，在(zai)曲軸磨削(xue)加(jia)工、組裝和修(xiu)理發(fa)動機(ji)工作中，特(te)別(bie)在(zai)對發動機(ji)及(ji)壓縮(suo)機(ji)的(de)檢(jian)測中得到(dao)廣泛的(de)應用。
KP150、KP300、KP500

DIATRON測(ce)量(liang)臺架(jia)
適用於DIATEST孔徑測量(liang)儀（如兩(liang)瓣(ban)式(shi)）小零(ling)件(jian)（小(xiao)孔徑）系列測量(liang)應用，兩(liang)瓣(ban)式(shi)測頭和(he)測量(liang)臺(tai)架(jia)配合使用，可快(kuai)速、準確地測(ce)量(liang)孔徑(jing)（可以測(ce)量孔徑(jing)、錐(zhui)形(xing)孔、圓(yuan)孔(kong)、錐(zhui)形(xing)炮(pao)形(xing)狀(zhuang)以及(ji)橢圓(yuan)度等(deng)等(deng)）。檢(jian)測孔的(de)形(xing)狀(zhuang)公差(cha)時(shi)，對於非熟(shu)練操(cao)作者(zhe)而(er)言(yan)，使用浮(fu)動夾頭和(he)V型塊(kuai)等(deng)附(fu)件尤為(wei)重(zhong)要因為(wei)這(zhe)種配(pei)置(zhi)可以準確、快(kuai)速的(de)傳(chuan)遞(di)測(ce)針的(de)位(wei)移(yi)。也(ye)可測量(liang)的(de)任意截面深度的(de)直(zhi)徑，在線生產中使用臺(tai)架(jia)式(shi)兩(liang)瓣(ban)式(shi)測量(liang)系(xi)統來(lai)控(kong)制(zhi)孔(kong)徑(jing)的(de)優(you)勢(shi)更為(wei)突出(chu)。

DIATRON浮(fu)動夾頭和(he)轉(zhuan)接(jie)頭
浮(fu)動夾頭：當使用兩(liang)瓣(ban)式(shi)測量(liang)系(xi)統測(ce)量(liang)小孔(≤25.0mm)時(shi)，推(tui)薦(jian)使用測(ce)量(liang)臺架(jia)，測量(liang)過(guo)程為(wei)了(le)讓測頭加(jia)入更好的(de)自(zi)定心(xin)，可以在(zai)臺架(jia)上安裝壹(yi)個浮(fu)動夾頭，該附(fu)件(jian)可以在(zai)水平面(mian)上提供微小的(de)浮(fu)動量，這樣(yang)避(bi)免了(le)測頭的(de)磨(mo)損。浮(fu)動範圍(wei)為(wei)：0-1.5mm也(ye)提供可調整測(ce)力(li)的(de)浮(fu)動夾頭。
SH-T、SH-BMD-20、SH-BMD-30、SH-BMD-50

DIATRON校對環規(gui)
校對環規(gui)：按(an)照(zhao)企(qi)業(ye)標準或(huo)DIN2250-C。
28.000
28.000+0.000

DIATRON百分(fen)表(biao)和千分(fen)表(biao)
指針千(qian)分(fen)表(biao)MU1m/MU01Z
指針百分(fen)表(biao)MU10m/MU1Z
比較儀 (F1000)
數顯(xian)千(qian)分(fen)表(biao)MDU125
模擬(ni)千(qian)分(fen)表(biao)(ANA)
MU-1-m
MU-01Z
MU-10-m
MU-1Z
MDU-125
ANA

DIATEST標準塞規(gui)式(shi)測量(liang)儀(yi)BMD-S4-CR-7.04

DIATEST標準塞規(gui)式(shi)測量(liang)儀(yi)BMD-S4-CR-7.04

為(wei)了(le)解決(jue)當前貿(mao)易教育的(de)教育形(xing)式(shi)單(dan)壹(yi)化問(wen)題(ti)，我們(men)需(xu)要綜(zong)合教師(shi)的(de)教育理論(lun)，教育方(fang)式(shi)，不斷的(de)引進國外(wai)的(de)教育經驗，所以這(zhe)樣(yang)的(de)壹(yi)個貿(mao)易教育研(yan)討組亟待組成，為(wei)了(le)貿(mao)易教育方(fang)法(fa)的(de)改(gai)革與創新(xin)，研(yan)討小(xiao)組不能直(zhi)接(jie)選擇某個教師(shi)的(de)較(jiao)好的(de)教育方(fang)式(shi)，統壹(yi)所有教師(shi)的(de)教育形(xing)式(shi)，這樣(yang)不(bu)僅(jin)缺(que)少(shao)了(le)教育特(te)色，還嚴重曲(qu)解了(le)教育改(gai)革(ge)的(de)真(zhen)正含(han)義(yi)。所以研(yan)討小(xiao)組要不斷結(jie)合所有教師(shi)的(de)教育經驗，總結(jie)歸納(na)得出(chu)秀的(de)教育方(fang)案(an)，統壹(yi)教育內容(rong)，但是(shi)教師(shi)的(de)教育形(xing)式(shi)不能壹(yi)致(zhi)，這樣(yang)會(hui)影響教師(shi)的(de)課(ke)堂特(te)色發揮，影響學生的(de)知(zhi)識吸(xi)收(shou)，甚影響教育改(gai)革(ge)[2]。同(tong)時(shi)教育研(yan)討組還需要不斷的(de)借(jie)鑒國外(wai)的(de)教育經驗，結(jie)合社(she)會發(fa)展形(xing)式(shi)，補(bu)充(chong)當前貿(mao)易的(de)教育內容(rong)，完善(shan)教育體(ti)制(zhi)，從而(er)培養(yang)貿(mao)易人(ren)才。

(二)完善(shan)貿(mao)易教育體(ti)系(xi)建立(li)

建立(li)合理的(de)教育體(ti)系(xi)有利(li)於完善(shan)貿(mao)易教育的(de)教學方(fang)式(shi)，而(er)所謂的(de)完善(shan)的(de)教育體(ti)系(xi)就是(shi)導者(zhe)，教育者(zhe)和(he)學(xue)生三者(zhe)工作分(fen)配(pei)合理化(hua)，工作內容(rong)具(ju)體化。身(shen)為(wei)導(dao)者(zhe)要註重(zhong)管理學(xue)生與教師(shi)的(de)教育形(xing)式(shi)，教育安排(pai)等(deng)，例(li)如(ru)對於教師(shi)的(de)課(ke)程安排(pai)，導者(zhe)不(bu)能按(an)照(zhao)老師(shi)的(de)空(kong)閑時間(jian)隨便(bian)安排(pai)課(ke)程，這樣(yang)會(hui)導致(zhi)教育系(xi)統的(de)混亂(luan)，所以在(zai)安排(pai)課(ke)程的(de)過(guo)程中需要導者(zhe)咨詢專業貿(mao)易教育人(ren)士(shi)的(de)意(yi)見，再結(jie)合社(she)會貿(mao)易市場(chang)的(de)發(fa)展來決定課(ke)程形(xing)式(shi)。對於教育者(zhe)來(lai)說(shuo)則(ze)不僅(jin)要滿足(zu)學(xue)生的(de)知(zhi)識內容(rong)需(xu)求，還需要對其實踐能力(li)進行(xing)大力培養(yang)。所以教師(shi)要合理安排(pai)課(ke)程形(xing)式(shi)，將(jiang)理論(lun)與實(shi)踐合理結(jie)合，既(ji)能保(bao)證學生專業知(zhi)識(shi)的(de)吸(xi)收(shou)，還要有利(li)於學生動手能力(li)的(de)提(ti)高。完善(shan)教育系(xi)統的(de)後(hou)壹(yi)個因(yin)素(su)就是(shi)學生，對於貿(mao)易專業來(lai)說(shuo)，需要的(de)是(shi)動手能力(li)強(qiang)，專業經驗足(zu)的(de)學(xue)習(xi)者(zhe)，所以作為(wei)學(xue)生，若想(xiang)成為(wei)專業技(ji)能強(qiang)的(de)佼者(zhe)，就需要不斷的(de)進行(xing)操(cao)作能力(li)培訓(xun)。

(三)提(ti)高(gao)貿(mao)易教育的(de)師(shi)資(zi)力量(liang)

對於貿(mao)易改(gai)革的(de)外(wai)在(zai)影響因素來說(shuo)我(wo)們(men)不(bu)能僅(jin)去(qu)改(gai)變(bian)他(ta)們(men)對於教育改(gai)革(ge)的(de)想(xiang)法(fa)，我(wo)們(men)還要學國外(wai)教育經驗，選擇適(shi)合我國貿(mao)易教育發(fa)展(zhan)的(de)教育方(fang)式(shi)，就有效的(de)經驗來說(shuo)，先(xian)我們(men)要做的(de)就是(shi)提高(gao)國內的(de)師(shi)資(zi)力量(liang)。所以在(zai)教師(shi)方(fang)面(mian)我們(men)可以對於專業知(zhi)識(shi)好的(de)教師(shi)進行(xing)貿(mao)易實(shi)踐培訓(xun)，或(huo)者(zhe)國家(jia)資助(zhu)他們(men)去(qu)國外(wai)學(xue)習(xi)，以(yi)提高他(ta)們(men)的(de)實(shi)踐教育能力(li)。同(tong)時(shi)學校也(ye)可以從國外(wai)或(huo)者(zhe)企(qi)業(ye)引進專業性教師(shi)，這(zhe)樣(yang)可以使教育更接(jie)近(jin)貿(mao)易的(de)社(she)會市場(chang)。同(tong)時(shi)學校也(ye)可以組織操(cao)作實習(xi)，通過(guo)聯(lian)系(xi)相(xiang)關企業讓老師(shi)帶領學生們(men)進行(xing)實習(xi)，這(zhe)樣(yang)不(bu)僅(jin)有(you)利(li)於學生進行(xing)實踐操(cao)作，還能夠(gou)提高(gao)教師(shi)的(de)實(shi)踐教育能力(li)。

二、結(jie)語(yu)

總之，貿(mao)易教育方(fang)式(shi)的(de)改(gai)革與創新(xin)對於我國企(qi)業發展(zhan)來說(shuo)是(shi)*的(de)，我(wo)們(men)要註意(yi)貿(mao)易教育中出(chu)現(xian)的(de)問(wen)題(ti)，對於貿(mao)易專業來(lai)說(shuo)要形(xing)成專業的(de)教師(shi)研(yan)討組，完善(shan)教育體(ti)系(xi)，並且提(ti)高教育師(shi)資(zi)力量(liang)。從而(er)保(bao)證貿(mao)易教育方(fang)式(shi)的(de)正常(chang)改(gai)革。